集成设备使用深度学习算法,搭载于显微镜平台上实时检测光纤芯片上划伤、脏污等外观缺陷,快速识别缺陷并自动化分类。
AIVision 算法平台集成机器视觉多种算法组件,可快速组合算法,将深度学习与传统视觉算法结合交互,实现对工件或被测物的查找、测量、定位、计数、分类、缺陷检测识别等。
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